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CX hs LT测温仪
CX hs LT测温仪图片
型号:CX hs LT
产地:上海
仪器产地:国产温度计/测温计


产品介绍

optris CX hs LT型测温仪在测量温差小至0.025 K时设定了新性能标准。测量范围-20°C至150°C。

红外测温仪在低噪声测温仪分支中设定了新标准,并且还能在周围温度变化时提供高精度的测量结果。

测量参数

温度量程(通过软件测量)

-20°C~150°C

光谱范围

8~14µm

光学分辨率(90%能量)

15:1

CF透镜(可选)

0.8mm @ 10mm

系统精度(环温= 23 ± 5°C和物体温度> 20°C)

±1%或±1°C1

重复精度(环温= 23 ± 5°C和物体温度> 20°C)

±0.3%或±0.3°C1

温度分辨率

0.025 K (物体温度>20°C 和平均值 > 0.2 s)

响应时间(95%)

150ms(通过可选编程装置可调节999 s)

发射率/增益(通过软件调节)

0.100~1.100

透射率(通过软件调节)

0.100~1.100

信号处理(仅通过软件可调具体参数)

峰值保持、谷值保持、平均值,延长保持阈值和滞后功能

基本参数

环境等级

IP65(NEMA-4)

环境温度

-20°C~75°C

存储温度

-40°C~85°C

相对湿度

10~95%,不结露

震动

-IEC 60068-2-6 (正弦波形)

-IEC 60068-2-64(宽频噪音)

冲击

IEC 60068-2-27 (25G和50G)

重量

350g

电气参数

模拟输出

4-20mA

报警输出

0-30V/50mA(常开)

数字输出(可选)

USB

回路电阻

Max1000 Ω2

电缆长度

8m

电源

直流5-30V

版本

零件编号: 温度量程/光谱范围/光学分辨率

OPTCXHSLT15: -20-150 °C / 8-14 μm / 15:1

1) 取较大值

2) 根据电源电压

应用领域

optris CX hs LT型测温仪适用于对温差变化很小的测量,并用于准确测量至关重要产品的温度。

因此,它不仅用于半导体工业中,用于测试所配备的电路板的性能,而且也适用于在其他需要全方面而准确的非接触式温度测量的工业领域。

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Optris欧普士科技公司
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地址: 上海市静安区共和新路1868号大宁国际商业广场1座 11楼1103
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