EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验（GB/T 17626.4、IEC 61000-4-4）中的干扰信号去耦，可以将瞬变脉冲群信号衰减20 dB以上。也可用于1 MHz以上干扰信号的衰减，衰减系数大于10 dB（与信号频率有关）。本产品采用卡扣式结构，可以直接套在待去耦的线缆上，使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。

附图：EMID 1M电磁干扰去耦夹衰减系数测试原理框图

* 在附图所示的测试条件下得出。