JEM-2100F场发射透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖，利用透射电镜明场、暗场、电子衍射和高分辨成像技术分析各种无机、有机及复合材料的精细结构，同时配有STEM和能谱附件分析样品的成分及分布情况，通过CCD数字成像系统记录样品的各种信息。